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产品展示
日本Mitutoyo一维高精度测高仪/QM-Height系列高精度数显测高仪
产品名称日本Mitutoyo一维高精度测高仪/QM-Height系列高精度数显测高仪 
品牌广精 
产地广州
参考价格 
备注暂无
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日本Mitutoyo一维高精度测高仪/QM-Height系列高精度数显测高仪【详细说明】
 
 日本Mitutoyo一维高精度测高仪/QM-Height系列高精度数显测高仪
    QM-Height高精度数字测高仪,带有合格/±超差判断和背光照明功能的大屏幕LCD·精度极高、性能全面、易于使用QM-Height系列数字测仪具有±(2.8+5L/1000)μm的极高精度,可满足最严酷条件下的测量需求。它的测量精度不仅仅依赖于测高仪本身,而且还依靠阶梯量块,可进行最大/最小值和位移形状表面以及内/外宽度、内/外径、圆心距和*扫描测量。此外,测量后获得的所有九种测数据均可随时存取,以便进一步作更安全和全面的计算。* 扫描测量行程:离测量起点上下1mm。·装有新开发的绝对式光栅尺·带背光的(红色和绿色)合格/±超差判断装置测量仪根据公差上下限的判断结果,使LCD的背光随之发生相应变化。·易于参照识别的图标键·凭借手轮,在导轨上下移动进行测量凭借手轮,选择粗调或微调进给量,进行手工测量。
日本Mitutoyo一维高精度测高仪/QM-Height系列高精度数显测高仪特点: 
QM-Height高精度数字测高仪,带有合格/±超差判断和背光照明功能的大屏幕LCD
·精度极高、性能全面、易于使用QM-Height系列数字测仪具有±(2.8+5L/1000)μm的极高精度,可满足最严酷条件下的测量需求。
它的测量精度不仅仅依赖于测高仪本身,而且还依靠阶梯量块,可进行最大/最小值和位移形状表面以及内/外宽度、内/外径、圆心距和*扫描测量。
此外,测量后获得的所有九种测数据均可随时存取,以便进一步作更安全和全面的计算。
* 扫描测量行程:离测量起点上下1mm。
·装有新开发的绝对式光栅尺
·带背光的(红色和绿色)合格/±超差判断装置测量仪根据公差上下限的判断结果,使LCD的背光随之发生相应变化。
·易于参照识别的图标键
·凭借手轮,在导轨上下移动进行测量凭借手轮,选择粗调或微调进给量,进行手工测量。

日本Mitutoyo一维高精度测高仪/QM-Height系列高精度数显测高仪技术参数:
 

mitutoyo一维高精度测高仪的详细介绍

 技术参数
货号 518-224 518-225 518-226 518-227
测量范围 0-350mm 0-600mm 0-14"/0-350mm 0-24"/0-600mm
分辨率(可选) 0.001mm,0.005mm .00005",.0001",.0002"/0.001mm,0.005mm
20℃时的精度 指示精度*1 ±(2.8+5L/1000)μm
重复精度*1 2б≤1.8μm
垂 直 度*2 6μm 13μm 6μm 13μm
导轨支承 滚柱轴承
传动方式 手工操作
测长装置 容栅
测量力 1.6±0.5N
显示器 LCD
电源 AC/电池(LR6×4)
电池寿命*3 260小时(不使用背光时)
约260小时(当背光在节电状态下使用时,按每天8小时测量100次计算)
约6小时(当背光在满负荷状态下使用时)
重量 22kg 27kg 22kg 27kg
工作温度范围 10至30℃
工作湿度范围 20至80%RH
标准附件 测头直径校验量块,带φ5圆球测头的标准测杆夹持器(05HZA148),辅助把手,碱性电池(LR6)

日本Mitutoyo一维高精度测高仪/QM-Height系列高精度数显测高仪技术参数:
 一维高精度测高仪 QM-Height系列高精度数显测高仪

日本Mitutoyo一维高精度测高仪/QM-Height系列高精度数显测高仪测量示意:  
    

日本Mitutoyo一维高精度测高仪/QM-Height系列高精度数显测高仪
典型配置

  

    
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